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Röntgenbeugung

Die Röntgenbeugung erlaubt als Routinemethode die Charakterisierung kristalliner Phasen und Phasengemische. Unter Anwendung geeigneter Eichverfahren sind darüber hinaus quantitative Zusammensetzungen von Gemischen sowie Korngrößenbestimmungen möglich. Durch die Möglichkeit der Untersuchung von Pulverproben und Einkristallen unter inerten Bedingungen bei unterschiedlichen Temperaturen und Drücken kann das Verhalten von Festkörpern unter währenden Bedingungen studiert werden. Unterschiedliche Aufnahmegeometrien erlauben die Untersuchung von Pulverproben in Transmissions-, Reflexions- und Kapillartechnik, wodurch Texturerscheinungen erkannt, und entsprechend berücksichtigt werden können.

Pulverdiffraktometrie

Dem Arbeitskreis stehen vier Pulverdiffraktometer mit unterschiedlicher Ausstattung zur Verfügung:

  • 2 STOE Stadi P: Mo-Kalpha1-Strahlung, Transmissionsgeometrie geeignet für Kapillar- und Flächenpräparate mit linearem ortsempfindlichen Detektor. Messungen im Temperaturbereich von 150K - ca. 1200K und für Hochdruckuntersuchungen mit Diamantstempelzellen

STOE Stadi P  
  • 1 STOE Stadi P, betrieben mit Cu-Kalpha1-Strahlung und ausgerüstet mit einem gebogenen Imageplatedetektor (2theta = 145°) und Probenwechsler


STOE Stadi P mit Imageplatedetektor

Im Freiburger Materialforschungsinstitut FMF werden darüber hinaus weitere Pulverdiffraktometer genutzt:

  • Siemens D5000: Cu- Kalpha1-Strahlung, Transmissionsgeometrie geeignet für Kapillar- und Flächenpräparate mit linearem ortsempfindlichen Detektor
  • Siemens D5000: Cu-Kalpha-Strahlung mit Euler-Wiege und Messzusatz für streifenden Einfall



Einkristalldiffraktometrie

Die Gesamtausstattung des Instituts besteht aus:

  • NONIUS CAD4 Vierkreis-Diffraktometer mit kappa-Geometrie
  • BRUKER SMART APEX mit CCD-Detektor
  • STOE IPDS2 Einkristalldiffraktometer mit Image-Plate-Detektor (STOE)
  • Rigaku Spider Image-Plate-System (Lehrstuhl Prof. Krossing)

 

Mit dem IPDS2-Gerät sind sind Intensitätsmessungen bei Temperaturen von 100K bis ca.1100K möglich. Ebenso Hochdruckuntersuchungen in Diamantstempelzellen. Es kommt Mo- oder Ag-Strahlung zum Einsatz.


STOE IPDS2-Einkristall-Diffraktometer mit Image-Plate-Detektor

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